汽车电子AEC-Q100标准介绍，车规级集成电路可靠性测试
车用电子主要依据国际汽车电子协会(Automotive Electronics Council，简称AEC)作为车规验证标准，包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯片组件)、AEC-Q200(被动组件)。其测试条件虽然比消费型芯片规范严苛，但测试条件仍以JEDEC或MIL-STD为主，另外加入特殊规格，例如电磁兼容性(EMC)验证。
AEC全称：Automotive Electronics Council ，中文名：汽车电子协会。由Chrysler（克莱斯勒）、Ford（福特）、GM（通用）发起并于1994年创立。
AEC目的：针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立车载电子部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。
AECQ即国际汽车电子协会车规验证标准。
包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q103（传感器）、AEC-Q104(多芯片组件)、AEC-Q200(被动组件)。进入汽车领域，则必须取得汽车电子协会的AECQ可靠度标准，以及零失效（Zero Defect）的供应链质量管理标准IATF16949规范。
AEC-Q100
对汽车车载电子零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。其中AEC-Q100是AEC的第一个标准，于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。
测试项目
AEC-Q100详细规定了一系列的测试，同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组：
测试群组A(环境压力加速测试，Accelerated Environment Stress)
测试群组B(使用寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)
测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)
测试群组D(芯片晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)
测试群组E(电气特性确认测试，Electrical Verification)
测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)
测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)
测试项目
此外，为了达到汽车电子产品对工作温度、耐久性与可靠度的高标准要求，组件供货商必须采用更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计方法。因此，AEC-Q100又分为不同的产品等级，其中第一级标准的工作温度范围在-40℃至125℃之间；最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃至150℃ 。
AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q200等规范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则（Guideline）。
以下供大家参考使用：
AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准（不包含测试方法）
AEC-Q100-001 邦线切应力测试
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009 电分配的评估
AEC-Q100-010 锡球剪切测试
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准（包含测试方法）
AEC - Q101-001 - Rev-A: 人体模式静电放电测试
AEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试
AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应力测试
AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试方法
AEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试
AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC - Q200 Rev - C: 半导体被动元件的应力测试标准（包含测试方法）
AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能测试
AEC - Q200-002 - Rev-A: 人体模式静电放电测试
AEC - Q200-003 - Rev-A: 断裂强度测试
AEC - Q200-004 - Rev-: 自恢复保险丝测量程序
AEC - Q200-005 - Rev-: PCB板弯曲/端子绑线应力测试
AEC - Q200-006 - Rev-: 端子应力（贴片元件）/切应力测试
AEC - Q200-007 - Rev-: 电压浪涌测试
AEC-Q100作用
主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态，引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认，确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能，以及在连续使用后个功能与性能是否能始终如一。
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